X熒光鍍層測厚儀工作原理：通過(guò)高壓產(chǎn)生電子流打入到X光管中靶材產(chǎn)生初級X光，初級X光經(jīng)過(guò)過(guò)濾和聚集射入到被測樣品產(chǎn)生次級X射線(xiàn)，也就是我們通常所說(shuō)的X熒光，X熒光被探測器探測到后經(jīng)放大，數模轉換輸入到計算機。計算機計算出我們需要的結果。
X熒光測厚儀的優(yōu)勢特點(diǎn)：
*超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面
*易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果
*有助于識別鍍層成分的創(chuàng )新型功能
*機身結構小巧結實(shí)，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室
*按下按鈕的數秒之內，即可得到有關(guān)樣件鍍層厚度的結果
*使用PC機和軟件，可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書(shū)
*用戶(hù)通過(guò)攝像頭及艙內照明系統，可看到樣件測試位置，提升了用戶(hù)測試信心
X熒光測厚儀應用范圍：
*合金分析
*鍍層厚度分析
*電鍍液金屬離子分析
*磁性介質(zhì)和半導體元素分析
*土壤污染元素分析
*過(guò)濾器上的薄膜元素分析
*塑料中的有毒元素分析
