X射線(xiàn)熒光光譜儀(XRF)是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。
XRF用X光或其他激發(fā)源照射待分析樣品,樣品中的元素之內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發(fā)的電子返回基態(tài)的時(shí)候,會(huì )放射出特征X光;不同的元素會(huì )放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波長(cháng)特性。檢測器(Detector)接受這些X光,儀器軟件系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化學(xué)研究、法醫學(xué)、電子產(chǎn)品進(jìn)料品管(EURoHS)和考古學(xué)等領(lǐng)域,在某種程度上與原子吸收光譜儀互補,減少工廠(chǎng)附設的品管實(shí)驗室之分析人力投入。
X射線(xiàn)熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn):
a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內,這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量,結果重現性好。
d) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。