X熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量?jì)x器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析?；谖④浿形囊暣跋到y的中文版應用軟件包，實(shí)現了對CMI主機的全面自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調整或手動(dòng)參數設定?？赏瑫r(shí)測定多種元素。數據統計報告功能允許用戶(hù)自定義多媒體分析報告格式，以滿(mǎn)足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、大值、小值、數據變動(dòng)范圍、相對偏差等多種數據分析模式。
X熒光測厚儀采用二次熒光法：它的原理是物資經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收過(guò)剩的能量而釀成不穩定的狀態(tài)。從不穩定狀態(tài)要回到穩定狀態(tài)，此物資必需將過(guò)剩的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度丈量?jì)x或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
X熒光測厚儀性能特點(diǎn)
1、滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
2、0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求
3、高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度
5、定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
6、鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
7、高分辨率探頭使分析結果更加精準
8、良好的射線(xiàn)屏蔽作用
9、測試口高度敏感性傳感器保護
