鍍層厚度測試儀的測量原理:
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無(wú)損地測量磁性金屬基體上非磁性涂蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導電涂蓋層的厚度。
磁性法(F型測頭)
當測頭與涂蓋層接觸時(shí),測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由于非磁性涂蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過(guò)測量其變化可導出涂蓋層的厚度。
渦流法(N型測頭)
利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),當測頭與涂蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,并對測頭中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋作用,通過(guò)測量反饋作用的大小可導出涂蓋層的厚度。
鍍層厚度測試儀的產(chǎn)品優(yōu)勢:
1、可進(jìn)行未知標樣掃描、無(wú)標樣定性,半定量分析。
2、操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩定性,快速出檢測結果。
3、可針對客戶(hù)個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
4、鍍層檢測,鍍層檢測可達5層,精度及穩定性高。
5、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測量功能。
6、可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
7、運行及維護成本低、無(wú)易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低。
鍍層厚度測試儀的產(chǎn)品特點(diǎn):
觸控彩色液晶屏,微電腦控制,自動(dòng)分組統計值、平均值。
旋轉角度位移實(shí)時(shí)顯示,保證測量準確回位。
滿(mǎn)足玻璃瓶底厚和壁厚兩種測試方式。
測量平臺新增托瓶裝置支持上下調節,讓測試輕松便捷。
系統自帶微型打印,上位機數據無(wú)限保存。
專(zhuān)業(yè)電腦測試軟件,曲線(xiàn)圖顯示,數據保存,EXCEL統計,打印A4試驗報告。
軟件用戶(hù)分級權限管理,數據統計及審計功能滿(mǎn)足行業(yè)要求。