鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。隨著(zhù)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機技術(shù)后，采用X射線(xiàn)鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量精度可達到相對誤差±1.5%（1微米厚度）,±0.01%(成分)，與傳統的磁性測厚儀相比，性能上有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且性?xún)r(jià)比高，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

 

工作原理：

 

鍍層測厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強度來(lái)測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒(méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì )對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

 

應用領(lǐng)域：

 

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行，飾銷(xiāo)售和檢測機構；電鍍行業(yè)。