X射線(xiàn)熒光光譜儀主要由激發(fā)源和探測系統構成。其原理就是：X射線(xiàn)管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線(xiàn)，來(lái)激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量或者波長(cháng)。
X射線(xiàn)熒光光譜儀的軟件技術(shù)：
分析元素：Na~U之間元素。
短分析時(shí)間：60秒。
配置RoHS檢測分析模型，無(wú)鹵分析模型。
軟件界面簡(jiǎn)潔，模塊化設計，功能清晰，易操作。
可配置鍍層分析模型、玩具指令等模型。
軟件擁有數據一鍵備份，一鍵還原功能，保護用戶(hù)數據安全。
根據不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測試度。
配備開(kāi)放式分析模型功能，客戶(hù)建立自己的工作模型。
硬件技術(shù)：
超短光路設計：提高無(wú)鹵檢測分辨率，提高樣品分析效率，降低光管功率，延長(cháng)儀器使用壽命。
模塊化準直器，根據分析元素，配備不同材質(zhì)準直器，從而降低準直器對分析元素的影響，提高元素分辨率。
e空氣動(dòng)力學(xué)設計，加速光管冷卻，有效降低儀器內部溫度；靜音設計。
電路系統符合EMC、FCC測試標準。
快拆卸樣品臺，換薄膜更方便。
