x射線(xiàn)測厚儀是一種專(zhuān)門(mén)應用于半導體材料、電子器件、微電子學(xué)、光通訊和數據儲存工業(yè)中的金屬薄膜厚度測量。測量更小、更快、更薄Ux-720比現有其它的XRF儀器可以測量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速?？蓽y試多鍍層，合金鍍層，能提供各類(lèi)金屬層、合金層厚度的快速、準確、穩定、無(wú)損的測量。
x射線(xiàn)測厚儀的產(chǎn)品優(yōu)勢：
1、可進(jìn)行未知標樣掃描、無(wú)標樣定性，半定量分析。
2、操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
3、可針對客戶(hù)個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
4、鍍層檢測，至多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高。
5、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測量功能。
6、可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
7、運行及維護成本低、無(wú)易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
x射線(xiàn)測厚儀具體的功能要求如下：
?。?）控制C型架拖動(dòng)電機的運行，實(shí)現C型架的前進(jìn)、后退以及精確定位等動(dòng)作；
?。?）控制X光機快門(mén)的開(kāi)關(guān)，監測測厚儀的電源、冷卻系統以及紅外傳感器的工作狀態(tài)，實(shí)現人機的安全聯(lián)鎖；
?。?）與數據采集系統進(jìn)行通信，完成厚度數據以及工作狀態(tài)的傳遞，實(shí)現測厚儀的標準塊校正和標準模式下的測量控制；
?。?）控制標準塊驅動(dòng)電機。在校正模式和標準模式下完成標準塊的正常旋轉；
?。?）設計簡(jiǎn)單、高效的人機界面，監測系統的運行狀態(tài)，輸人系統的運行參數。
