X熒光光譜儀是一種波長(cháng)較短的電磁輻射，經(jīng)過(guò)側定和剖析X射線(xiàn)的能量或X射線(xiàn)波長(cháng)，可獲知材料為何種元素，便可用來(lái)辨認物質(zhì)構成，定量剖析物質(zhì)中的元素含量。下面小編給大家介紹X熒光光譜儀的發(fā)展。
　　在日常人們的生活中，很多材料都含有濃度不等的金屬元素，有些元素對人體是有害的，如果超出人體所承受的范圍，會(huì )對人體的健康造成傷害，X熒光光譜儀可以有效的對有害金屬檢測出來(lái)，應用X射線(xiàn)光譜儀掃描辦法探測資料表層下面的缺陷是X射線(xiàn)無(wú)損檢側技能的一個(gè)主要使用范疇。
X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測系統構成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì )放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(cháng)特性。探測系統測量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。
　　元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(cháng)的X射線(xiàn)，根據莫斯萊定律，熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)λ與元素的原子序數Z有關(guān)，其數學(xué)關(guān)系如下：
　　λ=K(Z-s)-2
　　式中K和S是常數。
　　而根據量子理論，X射線(xiàn)可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為：
　　E=hν=hC/λ
　　式中，E為X射線(xiàn)光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。
　　因此,只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)或者能量,就可以知道元素的種類(lèi)，這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外,熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系，據此，可以進(jìn)行元素定量分析。