工作原理

X射線(xiàn)射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線(xiàn)熒光，根據熒光譜線(xiàn)元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度，，測量鍍層范圍廣，適合細微面積及超薄鍍層的測量。

原理圖

X射線(xiàn)電鍍層測厚儀產(chǎn)品優(yōu)勢

x射線(xiàn)電鍍層測厚儀樣品處理方法簡(jiǎn)單或無(wú)前處理
可快速對樣品做定性分析
對樣品可做半定量或準定量分析
譜線(xiàn)峰背比高,分析靈敏度高
不破壞試樣,無(wú)損分析
試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)
設備可靠、維修、維護簡(jiǎn)單
便捷、低廉的售后服務(wù)保證
快速：一般測量一個(gè)樣品只需要1～3分鐘，樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理。
無(wú)損：物理測量，不改變樣品性質(zhì)
準確：對樣品可以分析
直觀(guān)：直觀(guān)的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快
環(huán)保：檢測過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水

X射線(xiàn)電鍍層測厚儀基本參數

x射線(xiàn)電鍍層測厚儀針對不規則樣品進(jìn)行高度激光定位測試點(diǎn)分析；
軟件可分析5層25種元素鍍層；
通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺，實(shí)現不同測試點(diǎn)的測試需求；
配置高分辨率Si-PIN半導體探測器，實(shí)現對多鍍層樣品的精準分析；
內置高清晰攝像頭，方便用戶(hù)觀(guān)測樣品狀態(tài)；
高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
移動(dòng)范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

測試實(shí)例

測試對象：LED引腳

儀器：Thick800A
測定步驟：
步：新建Ag/Ni/Cu/Fe鍍層標準曲線(xiàn)
第二步：確定測試時(shí)間：30S
第三步：測試其重復性得出相對標準偏差

x射線(xiàn)電鍍層測厚儀測試譜圖

LED引腳Ag/Ni/Cu/Fe 三鍍層重復性測試數據