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 性能特點(diǎn)

金屬鍍層測厚分析儀滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺可精確定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線(xiàn)屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

技術(shù)指標

型號：Thick 800A金屬鍍層測厚分析儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
金屬鍍層測厚分析儀分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以?xún)龋糠N材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀(guān)尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

原理

金屬鍍層測厚分析儀原理是根據X射線(xiàn)穿透被測物時(shí)的強度衰減來(lái)進(jìn)行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線(xiàn)量，根據該X射線(xiàn)的能量值，確定被測件的厚度。由X射線(xiàn)探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀(guān)的實(shí)際厚度信號。
X射線(xiàn)源輻射強度的大小，與X射線(xiàn)管的發(fā)射強度和被測鋼板所吸收的X射線(xiàn)強度相關(guān)。一個(gè)在系統量程范圍內的給定厚度，為了確定其所需的X射線(xiàn)能量值，可利用M215型X射線(xiàn)檢測儀進(jìn)行校準。在檢測任一特殊厚度時(shí)，系統將設定X射線(xiàn)的能量值，使檢測能夠順利完成。
金屬鍍層測厚分析儀在厚度一定的情況下，X射線(xiàn)的能量值為常量。當安全快門(mén)打開(kāi)，X射線(xiàn)將從X射線(xiàn)源和探頭之間的被測鋼板中通過(guò)，被測鋼板將一部分能量吸收，剩余的X射線(xiàn)被位于X射線(xiàn)源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線(xiàn)轉換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測鋼板的厚度，則所吸收的X射線(xiàn)量也將改變，這將使探頭所接收的X射線(xiàn)量發(fā)生變化，檢測信號也隨之發(fā)生相應的變化。
金屬鍍層測厚分析儀按射線(xiàn)源的種類(lèi)可分為X射線(xiàn)測厚儀與核輻射線(xiàn)測厚儀兩類(lèi)，而后者又可多r射線(xiàn)測厚儀與 射線(xiàn)測厚儀。按射線(xiàn)與被測板材的作用方式，又可分為穿透式和反射式。
金屬鍍層測厚分析儀是利用射線(xiàn)與物質(zhì)相互作用時(shí)，為物質(zhì)所吸收或散射的效應來(lái)進(jìn)行測量的一種儀表。其主要特點(diǎn)：
(1)可進(jìn)行連續和不接觸地測量；
(2)測量精度較高；
(3)反應速度較快；
(4)能夠給出供濕示、記錄與控制的電信號，易于實(shí)現生產(chǎn)自動(dòng)化。

標準配置

開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
金屬鍍層測厚分析儀高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機