XRF800A鍍層測厚儀利用螢光X射線(xiàn)得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線(xiàn)法原理。和螢光X射線(xiàn)分析裝置一樣被使用的X射線(xiàn)衍射裝置是利用散亂X射線(xiàn)得到物質(zhì)的結晶信息(構造)。而透過(guò)X射線(xiàn)多用于拍攝醫學(xué)透視照片。另外也用于機場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質(zhì)信息而定X射線(xiàn)的種類(lèi)。我公司集中了國內的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開(kāi)發(fā)專(zhuān)家及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠先進(jìn)科學(xué)研究，總結多年的現場(chǎng)應用實(shí)踐經(jīng)驗，結合中國的特色，開(kāi)發(fā)生產(chǎn)出的電鍍膜厚光譜儀具有快速、準確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

X熒光光譜測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線(xiàn)照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì )發(fā)射出各自的特征X射線(xiàn)，不同的元素有不同的特征X射線(xiàn)；探測器探測到這些特征X射線(xiàn)后，將其光信號轉變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過(guò)模擬數字變換器將模擬電信號轉換為數字信號并送入計算機進(jìn)行處理；計算機獨有的特殊應用軟件根據獲取的譜峰信息，通過(guò)數據處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類(lèi)及各元素的鍍層厚度。

它能檢測出常見(jiàn)金屬鍍層厚度，無(wú)需樣品預處理；分析時(shí)間短，僅為數十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

鍍層測厚儀配置

開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

鍍層測厚儀應用

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷(xiāo)售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

XRF800A鍍層測厚儀清晰明了,簡(jiǎn)單易學(xué)，備受客戶(hù)青睞。