另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。X熒光光譜分析儀是屬于大型光學(xué)精密一起。以前我國主要依靠進(jìn)口光譜分析儀，進(jìn)口的光譜分析儀價(jià)格昂貴，耗費國家大量外匯。所以一機都在75年組織了光電式光譜分析儀會(huì )戰，從此我國可以自己大量生產(chǎn)大型X熒光光譜分析儀。X熒光光譜分析儀結構雖然很復雜，主要由下面四部分組成：光源、分光器（又稱(chēng)單色器）、接收器（又稱(chēng)探測器）、輸出裝置。為了更好的利用儀器和得到滿(mǎn)意的測試結果，必須對儀器各主要部分的作用和原理有所了解。

國產(chǎn)X熒光光譜分析儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節約取樣帶來(lái)的損耗。

2.測試速率高，可設定多通道瞬間多點(diǎn)采集，并通過(guò)計算器實(shí)時(shí)輸出。

3.對于一些機械零件可以做到無(wú)損檢測，而不破壞樣品，便于進(jìn)行無(wú)損檢測。

4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場(chǎng)分析，從而達到快速檢測。

5.分析結果的準確性是建立在化學(xué)分析標樣的基礎上。

光譜分析儀的缺點(diǎn)

1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。

2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能做為國家認證依據。

3.受各企業(yè)產(chǎn)品相對壟斷的因素，購買(mǎi)和維護成本都比較高，性?xún)r(jià)比較低。

4.需要大量代表性樣品進(jìn)行化學(xué)分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實(shí)際。

5.模型需要不斷更新，在儀器發(fā)生變化或者標準樣品發(fā)生變化時(shí)，模型也要變化。

6.建模成本很高，測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時(shí)，測試成本會(huì )下降。

7.易受光學(xué)系統參數等外部或內部因素影響，經(jīng)常出現曲線(xiàn)非線(xiàn)性問(wèn)題，對檢測結果的準確度影響較大。

國產(chǎn)X熒光光譜分析儀技術(shù)參數

產(chǎn)品型號：EDX 4500H

產(chǎn)品名稱(chēng)：X熒光光譜分析儀

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時(shí)間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測器

數字多道技術(shù)

光路增強系統

高信噪比電子線(xiàn)路單元

內置高清晰攝像頭

自動(dòng)切換型準直器和濾光片

自動(dòng)穩譜裝置

三重安全保護模式

可靠的整體鋼架結構

90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏

真空泵

性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進(jìn)水平

新的數字多道技術(shù)，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線(xiàn)性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

低能X射線(xiàn)激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍

自動(dòng)穩譜裝置保證了儀器工作的*性

高信噪比的電子線(xiàn)路單元

針對不同樣品自動(dòng)切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度

多參數線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制

內置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然

應用領(lǐng)域

X熒光光譜分析儀合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）