X射線(xiàn)熒光的物理原理：X射線(xiàn)是電磁波譜中的某特定波長(cháng)范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長(cháng)（單位：nm）描述。 X射線(xiàn)熒光是原子內產(chǎn)生變化所致的現象。一個(gè)穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線(xiàn)照射下脫離原子的束縛，釋放出來(lái)，電子的逐放會(huì )導致該電子殼層出現相應當電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會(huì )躍遷到該低能量電子殼層來(lái)填補相應當電子空位。由于不同電子殼層之間存在著(zhù)能量差距，這些能量上的差以二次X射線(xiàn)的形式釋放出來(lái)，不同的元素所釋放出來(lái)的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性。這一個(gè)過(guò)程就是我們所說(shuō)的X射線(xiàn)熒光（XRF）。

X射線(xiàn)的波長(cháng)元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(cháng)的X射線(xiàn)，根據莫斯萊定律，熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)λ與元素的原子序數Z有關(guān)，其數學(xué)關(guān)系如下： λ=K(Z? s) ?2　　式中K和S是常數。 

X射線(xiàn)的能量而根據量子理論，X射線(xiàn)可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為： E=hν=h C/λ 式中，E為X射線(xiàn)光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。 因此,只要測出熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)或者能量,就可以知道元素的種類(lèi)，這就是熒光X射線(xiàn)定性分析的基礎。此外,熒光X射線(xiàn)的強度與相應元素的含量有一定的關(guān)系，據此，可以進(jìn)行元素定量分析。 

X射線(xiàn)熒光應用及分析a) X射線(xiàn)用于元素分析，是一種新的分析技術(shù)，但在經(jīng)過(guò)二十多年的探索以后，現在已*成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛生等各個(gè)領(lǐng)域。 b) 每個(gè)元素的特征X射線(xiàn)的強度除與激發(fā)源的能量和強度有關(guān)外，還與這種元素在樣品中的含量。 c) 根據各元素的特征X射線(xiàn)的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線(xiàn)熒光分析的基本原理。

X熒光與其它方法比較優(yōu)點(diǎn): a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 b) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長(cháng)變化等現象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內，這種效應更為顯著(zhù)。波長(cháng)變化用于化學(xué)位的測定 。 c) 非破壞分析。在測定中不會(huì )引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì )出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。 d) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。 e) 分析精密度高。 f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。 缺點(diǎn)： a）難于作分析，故定量分析需要標樣。 b）對輕元素的靈敏度要低一些。 c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。 

X熒光分析儀的分類(lèi)不同元素發(fā)出的特征X射線(xiàn)能量和波長(cháng)各不相同，因此通過(guò)對X射線(xiàn)的能量或者波長(cháng)的測量即可知道它是何種元素發(fā)出的，進(jìn)行元素的定性分析。同時(shí)樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射 線(xiàn)強度跟這元素在樣品中的含量有關(guān)，因此測出它的強度就能進(jìn)行元素的定量分析。 因此，X射線(xiàn)熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型：波長(cháng)色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF) 。