X熒光測厚儀又稱(chēng)X射線(xiàn)熒光測厚儀，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度。

 

X射線(xiàn)鍍層測厚儀的測量原理：

 

物質(zhì)經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態(tài)。從不穩定狀態(tài)要回到穩定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測量?jì)x或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

 

THICK-800AX熒光測厚儀的優(yōu)點(diǎn)：

 

滿(mǎn)足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

 

φ0.1mm的小孔準直器可以滿(mǎn)足微小測試點(diǎn)的需求

 

高精度移動(dòng)平臺可精確定位測試點(diǎn)，重復定位精度小于0.005mm

 

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度

 

定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

 

鼠標可控制移動(dòng)平臺，鼠標點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)

 

高分辨率探頭使分析結果更加精準

 

良好的射線(xiàn)屏蔽作用

 

測試口高度敏感性傳感器保護