鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量不可少的檢測儀器。

 

工作原理：

鍍層測厚儀是將X射線(xiàn)照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線(xiàn)的強度來(lái)。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒(méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線(xiàn)只有45-75W左右，所以不會(huì )對樣品造成損壞。同時(shí)，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

 

影響測量精度的原因有：

(1)覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；

(2)基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；

(3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測量才不會(huì )受基體金屬厚度的影響；

(4)渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的；

(5)試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；

(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大；

(7)渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感.因此測量前應清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時(shí)應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。