X熒光光譜儀XRFX是一種用于元素分析的儀器,可以檢測樣品中的元素種類(lèi)和含量。
一、技術(shù)原理
X熒光光譜儀XRFX基于X射線(xiàn)熒光的原理。當樣品受到高能X射線(xiàn)照射時(shí),樣品中的原子會(huì )被激發(fā)并發(fā)射出二次X射線(xiàn),這種現象稱(chēng)為X射線(xiàn)熒光。每種元素的原子都有熒光發(fā)射譜線(xiàn),因此可以通過(guò)測量這些譜線(xiàn)的強度來(lái)確定樣品中元素的種類(lèi)和含量。
二、工作流程
1.樣品準備:將樣品置于樣品臺上,確保樣品表面平整并與探測器相對。
2.激發(fā)源產(chǎn)生:光譜儀中的X射線(xiàn)管產(chǎn)生高能X射線(xiàn),照射到樣品上。
3.熒光發(fā)射:樣品中的原子吸收X射線(xiàn)能量后,被激發(fā)到高能級。當原子退回到低能級時(shí),會(huì )發(fā)射出具有特定波長(cháng)的熒光X射線(xiàn)。
4.信號檢測:探測器接收樣品發(fā)射的熒光X射線(xiàn),將其轉換為電信號。
5.數據處理:將探測器收集到的電信號進(jìn)行放大、數模轉換等處理,得到樣品中各元素的強度數據。
6.結果分析:根據各元素的熒光強度,通過(guò)預先建立的標準曲線(xiàn)或校準模型,計算出樣品中各元素的含量。
三、特點(diǎn)
1.分析速度快:可以在幾分鐘內同時(shí)分析樣品中的多種元素。
2.分析范圍廣:可以分析從Na到U的大部分元素。
3.靈敏度高:可以檢測到ppm甚至ppb級別的元素含量。
4.非破壞性:對樣品無(wú)損傷,適合于珍貴文物、藝術(shù)品等樣品的分析。
X熒光光譜儀XRFX是一種重要的元素分析儀器,它基于X射線(xiàn)熒光的原理,通過(guò)一系列工作流程,可以快速、準確地分析樣品中的元素種類(lèi)和含量。